常見的有色金屬礦石檢測設(shè)備包括：
1. X射線熒光光譜儀：通過測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜，確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀：利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件，對礦石樣品進行離子化和分析，以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。

分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無輻射性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結(jié)果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。

·使用了的和多用途的x射線資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內(nèi)部標(biāo)準”來進行定量分析，而不需要進行的校正?；緟?shù)：采用半定量分析方式，適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實驗校正法：利用“校正曲線”進行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當(dāng)前和未來的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過對比光譜進行對比分析，顯示出分析結(jié)果，分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準的情況。
·通過更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲的試驗結(jié)果再次進行新的試驗。
·資料安全性：資料以二進位格式存儲于設(shè)備中，以資料的完整性。

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檢測范圍 　　
品位15-95% 硅 0.01-15% 磷 0.01-0.9% 鈦 0.1-45%硫 0.01-35% 鋁 0.01-5% 　　
服務(wù)承諾 　　
免費安裝 提供化學(xué)分析方法 　　
免費調(diào)試 提供分析工藝流程 　　
免費運輸 損耗由本公司負責(zé) 　　
免費培訓(xùn) 幫助籌建化驗室 　　
儀器實行終身服務(wù) 售后服務(wù)實行二十四小時響應(yīng) 　　
歡迎您來電咨詢

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品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9% 　　
鈦 0.1-45% 鋁 0.01-5% 　　
我公司秉承客戶之上，誠信交朋友，信譽鑄質(zhì)量的宗旨，滿足客戶一切的需求。歡迎你來電咨詢。

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