常見(jiàn)的有色金屬礦石檢測(cè)設(shè)備包括：
1. X射線熒光光譜儀：通過(guò)測(cè)量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜，確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀：利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件，對(duì)礦石樣品進(jìn)行離子化和分析，以測(cè)量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。

有色金屬礦石品位快速分析儀A-4000可以快速檢測(cè)各種有色金屬礦石中金屬元素種類(lèi)及含量，該分析儀體積小、重量輕、分析速度快，適合在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)礦石品位進(jìn)行檢測(cè)，可以檢測(cè)的礦石包含各種有色金屬礦石。

有色金屬礦石分析儀A-4000可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于各類(lèi)礦石的檢測(cè)和分析，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。礦石分析儀INNOV-X ALPHA-4000包括銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測(cè)的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

分析儀采用了X射線管光源、多光束過(guò)濾技術(shù)、以及惠普個(gè)人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦)，從而使其采測(cè)范圍、檢測(cè)速度、檢測(cè)精度都非常出色，并具有的升級(jí)潛力。

·使用了的和多用途的x射線資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來(lái)進(jìn)行定量分析，而不需要進(jìn)行的校正?；緟?shù)：采用半定量分析方式，適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實(shí)驗(yàn)校正法：利用“校正曲線”進(jìn)行校正，允許使用用戶(hù)產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進(jìn)行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿(mǎn)足您當(dāng)前和未來(lái)的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過(guò)對(duì)比光譜進(jìn)行對(duì)比分析，顯示出分析結(jié)果，分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的情況。
·通過(guò)更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲(chǔ)的試驗(yàn)結(jié)果再次進(jìn)行新的試驗(yàn)。
·資料安全性：資料以二進(jìn)位格式存儲(chǔ)于設(shè)備中，以資料的完整性。

近紅外光譜區(qū)域
由于不同的物質(zhì)含有不同的基團(tuán)，不同的基團(tuán)有不同的能級(jí)，不同的基團(tuán)或同一基團(tuán)在不同物理化學(xué)環(huán)境中對(duì)近紅外光的吸收波長(zhǎng)都有明顯差別，且吸收系數(shù)小，發(fā)熱少，因此近紅外光譜可作為獲取信息的一種有效的載體。近紅外光照射時(shí)，頻率相同的光線和基團(tuán)將發(fā)生共振現(xiàn)象，光的能量通過(guò)分子偶極矩的變化傳遞給分子；而如果近紅外光的頻率和樣品的振動(dòng)頻率不相同，該頻率的紅外光就不會(huì)被吸收。因此，選用連續(xù)改變頻率的近紅外光照射某樣品時(shí)，由于試樣對(duì)不同頻率近紅外光的選擇性吸收，通過(guò)試樣反射后的近紅外光線在某些波長(zhǎng)范圍內(nèi)會(huì)變?nèi)酰@樣紅外光線就攜帶樣品組分和結(jié)構(gòu)的信息。通過(guò)檢測(cè)器分析反射光線的光密度，就可以確定該組分的含量。