測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)的日?qǐng)?bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長(zhǎng)條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個(gè)測(cè)試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。

ict，即自動(dòng)在線(xiàn)測(cè)試儀，是現(xiàn)代電子企業(yè)的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷電路板組件）生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備，ICT使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問(wèn)題指示明確，即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問(wèn)題的PCBA也非常容易。

二手德律TR5001E ICT的功能能在數(shù)秒鐘內(nèi)檢出電路板上的零件-電阻、電容、電感、電晶體、二級(jí)管、穩(wěn)壓二級(jí)管、光偶器、繼電器等零件。能夠先找出制程不良所在，如漏件、錯(cuò)件、開(kāi)路、短路、反向等不良問(wèn)題。能夠?qū)⑸鲜鰡?wèn)題以印表機(jī)印出結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等，以供維修人員查看。

選配: (寬) 500 mm x (長(zhǎng)) 350 mm x (高) 100 mm . 模擬硬件 1、六線(xiàn)式量測(cè) 2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源 3、AC/DC電壓源, DC電流源量測(cè) 4、元件R/L/C量 . 選配硬件 。模擬測(cè)試 1、TestJet技術(shù)非向量式開(kāi)路檢測(cè)，任意波形產(chǎn)生器(AWG) 。數(shù)字測(cè)試 1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動(dòng)/接收比設(shè)計(jì) 2、待測(cè)板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、邊界掃描, BGA Tree測(cè)試能力 5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線(xiàn)燒錄TR-5001E 選ICT 二手TR5001E

TR518FR是德律科技為滿(mǎn)足電子產(chǎn)業(yè)中各類(lèi)產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇 美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開(kāi)路難以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專(zhuān)利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿(mǎn)意的測(cè)試效果。