廠家IRKD320-20二極管模塊

整流橋作為一種功率元器件，廣泛應(yīng)用于各種電源設(shè)備。器件內(nèi)部由四個二極管組成的電路，并引出四個引腳與外部電路連接。四個引腳中，兩個直流輸出端標(biāo)有+或－，兩個交流輸入端有～標(biāo)記。利用二極管的單向?qū)щ娦詫⒄?fù)變化的交流電壓變?yōu)閱蜗蛎}動電壓的電路。在交流電源的作用下，整流二極管周期性地導(dǎo)通和截止，使負(fù)載得到脈動的直流電。在整流橋的每個工作周期內(nèi)，同一時間只有兩個二極管進(jìn)行工作，因此我們可以將整流器工作周期分為正半周和負(fù)半周。在電源的正半周，二極管導(dǎo)通，使負(fù)載上的電流與電壓波形形狀完全相同；在電源電壓的負(fù)半周，二極管處于反向截止?fàn)顟B(tài)，承受電源負(fù)半周電壓，負(fù)載電壓幾乎為零。

經(jīng)過整流橋直接整流過的電壓還不夠平滑，還需要濾波電路電壓進(jìn)行修正。濾波電路作用是盡可能減小脈動的直流電壓中的交流成分，保留其直流成分，使輸出電壓紋波系數(shù)降低，波形變得比較平滑，從而獲得穩(wěn)定的電壓。

電阻測試法

電阻測試法是利用二極管的單向?qū)ㄌ匦?，測試其正向有電阻讀值與反向截止無讀值來判斷其是否好壞，這套測量整流橋的好壞方法是很常見的一種。

測試方法與步驟為：紅筆接整流橋負(fù)極，黑筆分別接兩個交流腳位，若均有讀值顯示則說明負(fù)極與交流之間的兩顆芯片正常；黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測兩個交流腳位，若均有讀值顯示則表明整流橋正極與交流間的兩顆芯片為正常。

測試結(jié)果總結(jié)：若測試過程中結(jié)果反饋如上所述，則表示該整流橋4顆芯片均正常，萬用表讀值為該測試芯片的內(nèi)阻值；若出現(xiàn)非一致的情況，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。

壓降測試法

壓降測試法是利用萬用表二極管檔位直接測試整流橋內(nèi)部二極管芯片的方法，讀值為壓降的參考值或近似值。測試方法與電阻測試法大致類似，也是很常見的一種測量整流橋好壞的方法。

測試方法與步驟為：紅筆接整流橋負(fù)極，黑筆接整流橋正極，此時測試結(jié)果為整個整流橋的壓降參考值；如需分別測試每顆芯片的壓降值，則方法為黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測兩個交流腳位；紅筆接整流橋負(fù)極，黑筆分別探測兩個交流腳位，此時所測結(jié)果為內(nèi)部立二極管芯片的壓降參數(shù)值。

測試結(jié)果總結(jié)：上述測試結(jié)果為該整流橋內(nèi)部二極管芯片壓降的參考值，有示數(shù)說明該芯片正常，可以判斷整流橋通斷與好壞情況。如有非一致的情況出現(xiàn)，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。

整流橋的結(jié)構(gòu)：

整流橋通常是由兩只或四只整流硅芯片作橋式連接，兩只的為半橋，四只的則稱全橋。外部采用絕緣朔料封裝而成，大功率整流橋在絕緣層外添加鋅金屬殼包封，增強(qiáng)散熱性能。