X熒光光譜儀的使用注意事項：
1、 為了保持儀器的良好外觀，需經(jīng)常對儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵；
2、 向樣品腔內(nèi)放樣品時，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會污染X光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；
3、 樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作；
4、為使儀器能長期工作正常，需定期對各項參數(shù)進行測試，并進行調整；
5、 儀器只允許經(jīng)培訓的人員才能操作，其他人員一律不能操作；
6、 使用、保存和搬動中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內(nèi)部線路。

x熒光光譜儀介紹
x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質樣品以及通過化學方法將固體轉換成的溶液等。

x熒光光譜儀
1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術指標新高靈敏度探測器（分辨率達149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：靶材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動選擇
樣品定位：微動載物平臺（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

天瑞儀器x熒光光譜儀合格率，天瑞儀器x熒光光譜儀檢測重復性好，天瑞儀器x熒光光譜儀用途原理是將測樣品被x射線激發(fā)產(chǎn)生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現(xiàn)代計算機技術，通過復雜的數(shù)學函數(shù)，算出待測物品的元素含量。天瑞儀器x射線分析儀主要用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量，適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內(nèi)飾，設備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。天瑞儀器的edx0b是目前市場銷售量，產(chǎn)品合格率達的x熒光光譜儀產(chǎn)品！
規(guī)格參數(shù)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.1％（含量96％以上）
長期工作穩(wěn)定性為0.1％（含量96％以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
x熒光光譜儀廠家天瑞儀器實力展示：

江蘇天瑞儀器股份有限公司將以“x熒光光譜儀”的姿態(tài)，不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加的產(chǎn)品和更加滿意的服務，同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)等眾多行業(yè)提供更為完善的行業(yè)整體解決方案，從而推動經(jīng)濟快速全球化。目前公司已于2011年成功在深圳創(chuàng)業(yè)板上市，代碼300165。

天瑞儀器公司作為國內(nèi)x熒光光譜儀制造廠商，的儀器展示中心，客戶參觀。
售后服務：/強大的分析測試中心為客戶提供便捷的數(shù)據(jù)服務/

江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)x熒光光譜儀產(chǎn)品銷售已擁有遍布全國的多個技術服務網(wǎng)點和全球100多家代理機構，我們的服務遍布全球每一個角落。公司成立的客戶服務中心，免費服務，即時快速的解決客戶問題，4小時響應，：深圳分公司網(wǎng)點，昆山總部網(wǎng)點，天津技術網(wǎng)點，福建技術網(wǎng)點，浙江寧波技術網(wǎng)點，浙江溫州技術網(wǎng)點，陜甘寧技術網(wǎng)點，云貴川技術網(wǎng)點等十分區(qū)遍布國內(nèi)。
客戶案例：

原理和技術：手持式礦石元素分析儀主要基于光譜技術，其中常用的是光電子發(fā)射光譜（LIBS）和X射線熒光光譜（XRF）。LIBS技術通過激光脈沖激發(fā)樣品，使其產(chǎn)生等離子體，通過分析等離子體發(fā)射的光譜來確定元素成分。XRF技術則利用樣品受到X射線激發(fā)后產(chǎn)生的熒光來分析元素成分。這些技術具有非破壞性、快速、準確的特點。

數(shù)據(jù)處理和顯示：手持式礦石元素分析儀通常配備了數(shù)據(jù)處理和顯示功能，可以實時顯示分析結果。它可以提供元素含量的數(shù)字結果，也可以以圖表或譜圖的形式展示，方便用戶進行數(shù)據(jù)分析和解讀。