我公司秉承質(zhì)量，顧客至上的原則，竭誠為國內(nèi)外廣大客戶朋友提供*的服務(wù) 希望通過我們的真誠與努力能夠成為您長期的合作伙伴，共創(chuàng)輝煌！用戶的需求在時間作出反應(yīng)，為用戶提供*產(chǎn)品及的服務(wù)。
企業(yè)精神
精誠合作 務(wù)實創(chuàng)新 開拓進取
免費安裝
提供化學(xué)分析方法
免費調(diào)試
提供分析工藝流程
免費運輸
損耗由本公司負責(zé)
免費培訓(xùn)
幫助籌建化驗室
儀器實行終身服務(wù) 實行二十四小時響應(yīng)

全新設(shè)計的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

礦石光譜分析儀市場前景廣闊。礦石是重要的資源，對于許多行業(yè)和國家的經(jīng)濟發(fā)展至關(guān)重要。光譜分析儀是一種的儀器，可以用于礦石的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分析，以及礦石質(zhì)量的評估。